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改進信號處理方式減少散射角數量

2022-7-28

與單角度測量相比，多角度動態光散射增加了顆粒粒度信息，從而提高了粒度分布測量的準確性。但是，隨著散射角的增加，也會引入新的問題出現。那么，是否有可能通過其它方法來減少動態光散射測量對射角數量的需求？與單角度測量相比，多角度動態光散射增加了顆粒粒度信息，從而提高了粒度分布測量的準確性。但是，隨著散射角的增加，也會引入新的問題出現。那么，是否有可能通過其它方法來減少動態光散射測量對射角數量的需求？欲知詳細信息，請下載技術報告查看。

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粒度粒形分析儀的性能特征粒度粒形分析儀使用振動進樣器實現干法分散，采取鞘流技術實現濕法分散，利用高速相機采集顆粒圖像，并利用高斯濾波算法消除噪聲、邊緣檢測算法剔除離焦模糊圖像。顆粒圖像處理與分析的過程包括圖像的采集、預處理、圖像分割、離焦檢測、特征提取、參數統計分析、結果輸出等幾個環節，最后計算出顆粒的粒度粒形參數，包括面積等效直徑、周長等效直徑、最小外接圓直徑、最大內切圓直徑、費雷特直徑、馬丁直徑、長度、寬度、周長、面積、偏心率、圓形度、矩形度、長寬比、凸度等。粒度粒形分析儀還具有以下幾點性能特征... 查看詳情 2021-06-23
Zeta電位分析儀中Zeta電位到底指的是什么？ Zeta電位分析儀，什么是zeta電位？粒子表面存在的凈電荷，影響粒子界面周圍區域的離子分布，導致接近表面抗衡離子濃度增加。于是，每個粒子周圍均存在雙電層。繞粒子的液體層存在兩部分：一是內層區，稱為緊密層，其中離子與粒子緊緊地結合在一起；另一個是擴散層，其中離子松散地與粒子相吸附。在分散層內，有一個抽象邊界，在邊界內的離子和粒子形成穩定實體。當粒子運動時，在此邊界內的離子隨著粒子運動，但此邊界外的離子不隨著粒子運動。這個邊界稱為流體力學剪切層或滑動面。在這個邊界上存在的電位即... 查看詳情 2021-06-17
納米粒度儀的應用領域及儀器特點納米顆粒的粒度及其分布是表征其性能的主要參數，因此對納米顆粒粒度的準確測量具有重要意義。通過納米粒度儀測量溶液中納米顆粒的散射光強在固定空間位置的漲落，動態光散射（DLS）方法能夠獲取顆粒的粒度信息，由于該方法測量速度快、重復性好、對樣品無損傷等優點而被廣泛采用，并成為國際標準化組織認定的測量納米顆粒粒度的標準手段。納米粒度儀的應用領域：可以測量高分子、膠體、自組裝膠束、生物大分子、蛋白、多肽、抗原、抗體、納米金屬/非金屬顆粒、磨料的粒度和分布、聚合過程及反應機理研究、聚集與... 查看詳情 2021-06-07
納米粒度及Zeta電位分析儀顆粒粒度測量的性能特點納米粒度及Zeta電位分析儀使用優化的反演算法，使得測量結果準確度高、重復性好，還可與多功能自動滴定系統相連接，配合強大易用的控制軟件，獲得納米顆粒粒徑和Zeta電位隨pH值、添加劑濃度及溫度變化的趨勢。軟件還具有一鍵式SOP測量功能，無需用戶干預，自動調整散射光、自動優化光子相關器參數，以適應不同樣品，是測量納米顆粒粒度和Zeta電位的信賴之選。納米粒度及Zeta電位分析儀顆粒粒度測量的性能特點：1.高效的光路系統：采用固態激光器和一體化光纖探頭搭建而成的光路滿足空間相干性... 查看詳情 2021-06-04

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