圖像粒度粒形分析儀是一種激光加圖像二和一的粒度粒形分析系統(tǒng)。它的激光散射系統(tǒng)為雙鏡頭斜入射光學(xué)系統(tǒng)，成像系統(tǒng)為動(dòng)態(tài)雙路遠(yuǎn)心顯微成像系統(tǒng)，可同步進(jìn)行粒度和粒形分析，實(shí)現(xiàn)了一機(jī)兩用。分析儀避免了多光束技術(shù)造成的間斷散射光信號(hào)的連接偏差和多波長(zhǎng)造成的樣品折射率偏差，使測(cè)試結(jié)果更準(zhǔn)確，同時(shí)實(shí)現(xiàn)了對(duì)納米、微米甚至毫米級(jí)樣品的準(zhǔn)確粒度測(cè)試。由于探測(cè)器數(shù)量多和結(jié)構(gòu)*，該儀器具有*分辨單峰、雙峰和多峰樣品的能力。
 

　　圖像粒度粒形分析儀可以輕松地根據(jù)您的質(zhì)量控制程序進(jìn)行校準(zhǔn)。可以一次分析32種形態(tài)參數(shù)，包括尺寸，形狀，表面粗糙度，密度，透明度以及3D圖像。可用于測(cè)量顆粒，例如肥料，沙子，糖，石頭和各種食品工業(yè)產(chǎn)品。同時(shí)，該儀器還采用了樣品折射率測(cè)量技術(shù)、自動(dòng)對(duì)中技術(shù)、防干燒超聲波分散技術(shù)、SOP技術(shù)、大功率偏振光技術(shù)等，進(jìn)一步提升了它的重復(fù)性、準(zhǔn)確性和分辨力。
 

　　圖像粒度粒形分析儀*的分析技術(shù)，除了可以記錄2D分析具有的顆粒大小和形狀參數(shù)外，還可以記錄顆粒的厚度信息。并且只需要一次運(yùn)行即可完成顆粒的追蹤功能。提供多種參數(shù)過(guò)濾或篩選功能，報(bào)表簡(jiǎn)單、強(qiáng)大、靈活。可以生成復(fù)雜的報(bào)表作為研究之用，用戶可以選擇報(bào)表呈現(xiàn)的通道數(shù)以及每個(gè)通道的寬度。